Лазерная рентгеновская микроскопия

Материал из свободной русской энциклопедии «Традиция»
Перейти к: навигация, поиск
Icons-mini-icon 2main.png Основная статья: Микроскоп
Рис.1, Принципиальная схема работы Лазерного рентгеновского микроскопа

Ла́зерная рентге́новская микроскопи́я — разновидность рентгеноструктурного анализа, основанного на дифракции рентгеновских лучей на исследуемом объекте. В отличие от традиционного рентгеноструктурного анализа, исследуется одиночные молекулы и их сочетания.

Как правило появление новых методов микроскопии вообще связано с разработкой и соданием лазерных рентгеновских микроскопов, флюоресцентных (нано) микроскопов благодаря достижениям в области новых открытий в физике, создания новых материалов, оптических устройств, методов метрологического обеспечения. Так например, развитие лазерной рентгеноскопии, флюоресцентной микроскопии связано с возможностью настройки сжатия и получения «жёстких» рентгеновских лучей, применяемых в диапазоне разных длин волн, включая длину волны 0,1нм. Новые микроскопы используют явления флюоресценции с возможностью флюоресцентного исследования в отражённом или проходящем освещении, где внедрено опорное рентгеновское освещение и новые линзы, способные преломлять рентгеновские лучи и т.д.

Для получения и дальнейшей регистрации дифракционной картины на одиночном объекте требуется:

  • высокая концентрация энергии излучения на исследуемом объекте как из-за его размера (традиционный рентгеноструктурный анализ имеет дело с кристаллами из исследуемых объектов), так и из-за ограниченной чувствительности принимающей аппаратуры (при недостаточной энергии не удастся зафиксировать картину);
  • малое время экспонирования, так как вследствие высокой концентрации энергии объект неизбежно разрушается излучением. Характерные временные интервалы — несколько фемтосекунд (10-12 с);
  • высокая пространственная когерентность излучения (длина когерентности должна быть по крайней мере сравнима с длиной оптического пути прибора), в противном случае из-за малого времени экспонирования возникающее искажение фазы не позволит сформировать устойчивую дифракционную картину.

См. также[править]

Ссылки[править]